| 0 |
|
Пленки из полупроводниковых нанокристаллов рассматриваются как перспективный материал для широкого круга приложений, включая электронные и фотонные схемы, детекторы биомолекул или пиксели на экранах высокого разрешения. Однако, получать структурно однородные пленки весьма непросто. Кроме того, типичные нанокристаллы имеют трещины, что уменьшает их полезность и делает невозможным измерение фундаментальных свойств этих материалов.
В статье, опубликованной в свежем онлайновом номере журнала Nano Letters, исследователи из Массачусетского технологического института (MIT) утверждают, что нашли способ изготовления бездефектных фрагментов нанокристаллических пленок. При этом структура и положение пленок контролируются с нанометровой точностью.
Такой уровень контроля позволяет, в числе прочего, производить пленки, испускающие излучение разных оттенков, в зависимости от размера нанокристаллов. Это делает возможным прямое наблюдение наноструктур с помощью оптического микроскопа и существенно ускоряет процесс их разработки.
Получаемые исследователями бездефектные пленки имеют электропроводность примерно в 180 раз выше, чем пленки с трещинами, изготовляемые более традиционными методами. Помимо этого, процесс, разработанный в MIT при поддержке компании Samsung, уже обеспечивает создание на поверхности кремния структур размером всего 30 нм — практически предел детализации, доступный для современной индустрии.
Ready, set, buy! Посібник для початківців - як придбати Copilot для Microsoft 365
| 0 |
|
