`

СПЕЦИАЛЬНЫЕ
ПАРТНЕРЫ
ПРОЕКТА

Архив номеров

Best CIO

Определение наиболее профессиональных ИТ-управленцев, лидеров и экспертов в своих отраслях

Человек года

Кто внес наибольший вклад в развитие украинского ИТ-рынка.

Продукт года

Награды «Продукт года» еженедельника «Компьютерное обозрение» за наиболее выдающиеся ИТ-товары

 

Получены снимки электронов в квантовых точках

0 
 
Получены снимки электронов в квантовых точках

Группа исследователей из Калифорнийского университета, Массачусетского технологического института (MIT), Национальной Лаборатории Лоуренса Беркли (Berkeley Labs) и Национального института материаловедения (Япония) смогла получить изображения релятивистских электронов, захваченных графеновыми квантовыми точками.

В своей статье, размещённой в журнале Nature Physics, ученые рассказали о проведенном эксперименте, который позволил добиться более глубокого понимания физики фермионов Дирака, отработать методику захвата и удержания электронов в наноустройствах.

Визуализация электронных волновых форм это весьма неординарная задача и все существующие методы до сих пор давали изображения со множеством дефектов. Для того, чтобы обойти это затруднение, авторы применили новый подход к захвату электронов.

Сначала они получили круговое p-n-соединение, создав разность потенциалов между вершиной зонда сканирующего туннельного микроскопа и графеновым образцом. Затем, напряжение было приложено к пластинке кремния, размещённой снизу графена и отделенной от него слоем оксида кремния с фрагментом нитрида бора. В результате произошла ионизация дефектов в нитриде бора, и заряды мигрировали из него в графен.

Для того, чтобы получить изображения этих зарядов, ученые поместили острие зонда микроскопа непосредственно над поверхностью квантовой точки. Это позволило, передвигая зонд выполнять множественные измерения туннельного тока и в конечном итоге свести их воедино, построив карту пространственного распределения удерживаемых электростатически фермионов Дирака.

Как предполагают авторы статьи, новый метод можно положить в основу разработки более сложных систем, например, состоящих из многих квантовых точек. В ближайших планах — применение этой техники к двухслойному графену, содержащему гораздо больше дираковских носителей заряда.

26 ноября — не пропустите Dell Technologies Forum EMEA!

0 
 

Напечатать Отправить другу

Читайте также

 

Slack подает жалобу на Microsoft и требует антимонопольного расследования от ЕС

 
Реклама

  •  Home  •  Рынок  •  ИТ-директор  •  CloudComputing  •  Hard  •  Soft  •  Сети  •  Безопасность  •  Наука  •  IoT