0 |
В производстве полупроводников метрология — жизненно важная часть процесса. По большей части анализ производится на оборудовании CDSEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscopy), и, с ростом сложности технологии производства, объем данных, собираемых с одной пластины, растет. Естественно, этот объем информации нужно обрабатывать: проводит быстрый анализ и сравнение с другими фрагментами. Для выполнения этих операций Applied Materials запустила службу TechEdge Prizm.
Если при производстве по
По оценке Applied Materials, сервис Prizm может повысить производительность в десятки раз, и избавить инженеров от многих часов рутинной работы по сбору данных вручную. Онлайновое хранилище также позволит дольше хранить наборы данных, в некоторых случаях до 7 лет.
Ready, set, buy! Посібник для початківців - як придбати Copilot для Microsoft 365
0 |