Macronix нашла способ решения проблемы износа SSD-накопителей

Производитель энергонезависмой памяти, фирма Macronix, в публикации для IEEE Spectrum предложила способ противодействия износу ячеек флэш-памяти. Повторные запись и считывание информации ведут к повреждению изоляции ячеек, и примерно через 10 тыс. циклов они перестают функционировать. Инженеры Macronix разработали способ самостоятельного восстановления утраченной функциональности флэш-памяти NAND, позволяющий ей работать на протяжении 100 млн циклов.

Сам способ восстановления флэш-ячеек известен давно, это воздействие повышенной температурой. Однако найти ему практичное применение до сих пор не удавалось — ведь для того, чтобы достичь успеха необходимо «отжигать» чипы памяти при температуре 250 °C на протяжении нескольких часов.

В Macronix полностью переконструировали микросхемы флэш-памяти, встроив в них миниатюрные нагреватели, способные выполнять избирательный отжиг небольших групп ячеек. Короткий тепловой импульс, нагревающий очень ограниченную зону чипа до 800 °С возвращает ячейкам работоспособность за несколько миллисекунд.

Авторы изобретения отмечают, что такую обработку нет нужды применять часто. Сектора восстанавливаются по очереди, при этом микросхема должна быть в неактивном состоянии, хотя и может оставаться подключенной к источнику питания. Из-за локальности воздействия энергии тратится немного, поэтому использовать такую память можно, например, в мобильных телефонах без снижения ресурса батарей.

Презентация новой технологии под названием «Radically Extending the Cycling Endurance of Flash Memory (to > 100M Cycles) by Using Built-in Thermal Annealing to Self-heal the Stress-Induced Damage», состоится на конгрессе IEDM (IEEE International Electron Devices Meeting), проходящем с 10 по 12 декабря в Сан-Франциско (штат Калифорния).

Стратегія охолодження ЦОД для епохи AI