`

СПЕЦІАЛЬНІ
ПАРТНЕРИ
ПРОЕКТУ

Чи використовує ваша компанія ChatGPT в роботі?

BEST CIO

Определение наиболее профессиональных ИТ-управленцев, лидеров и экспертов в своих отраслях

Человек года

Кто внес наибольший вклад в развитие украинского ИТ-рынка.

Продукт года

Награды «Продукт года» еженедельника «Компьютерное обозрение» за наиболее выдающиеся ИТ-товары

 

Представлен первый метод точного измерения характеристик MEMS

0 
 
Представлен первый метод точного измерения характеристик MEMS

Несмотря на популярность в ряде нишевых приложений, таких как средства контроля подачи чернил в печатных головках принтеров, акселерометры для активации воздушных подушек в автомобилях и управления пользовательским интерфейсом смартфонов, микроэлектромеханические устройства (MEMS) за полвека существования не получили должного коммерческого внедрения.

Одна из причин этого заключается в сложности определения базовых рабочих параметров MEMS без их разрушения. Не зная в точности требований к питанию и оптимальной выходной мощности механизма размерами от 20 мкм до миллиметра, сложно найти для него наилучшее применение.

Для решения этой проблемы доктор Александр Буну (Alexandre Bounouh) и его коллеги из французской метрологической лаборатории LNE (Laboratoire national de métrologie et d’essais) разработали новый способ сбора точных сведений о механических и прочих свойствах MEMS посредством электрического измерения.

Несложная в применении и дешевая методика была впервые представлена на TechConnect World Conference 2013. Она заключается в пропускании через устройство тока с меняющейся частотой и анализе его гармонического состава на выходе. Дополнительные вычисления позволяют определять на основе этих данных все механические характеристики MEMS, включая коэффициент демпфирования и частоту механических колебаний, оптимальную для генерации электроэнергии преобразователями устройства.

Как отметил доктор Буну, этот метод не требует больших инвестиций и, в то же время, дает очень точное представление о потенциале и границах использования микроэлектромеханизмов, и может легко масштабироваться для применения в микроскопических и макроскопических масштабах.

В будущем новый метод сможет позволить производителям проектировать MEMS с параметрами, максимально отвечающими нуждам конкретных приложений, а заказчикам — подбирать оптимизированные модели для своих задач.

Стратегія охолодження ЦОД для епохи AI

0 
 

Напечатать Отправить другу

Читайте также

 

Ukraine

 

  •  Home  •  Ринок  •  IТ-директор  •  CloudComputing  •  Hard  •  Soft  •  Мережі  •  Безпека  •  Наука  •  IoT